顆粒計數能夠較好地預估磨損情況的嚴重性，并且很容易檢測出顆粒從小到大的轉變趨勢。顆粒計數通常使用以下技術:光阻法、直接成像或孔阻塞柱塞法等技術。

1，關于光阻技術

      光阻技術，受到重合效應(顆粒重疊)和煙炱顆粒的干擾。因此，該方法僅適用于分析在污染控制工業中與機器內部接觸較少的清潔半透明油液

2，關于直接成像

      直接成像技術，通過使用CCD傳感器處理更大面積上的顆粒來計算重合效應。樣品通過脈沖激光二極管照射，可以將稀釋前樣品的光通量提高到約2%，并克服樣品中煙炱顆粒的影響。

3，孔阻塞柱塞法

     傳統的孔阻塞裝置類似于光學顆粒計數器，因為，其在顆粒物相對低的水平下就會達到量程上限，所以不適合于精確量化機器中嚴重污染磨損的樣品。然而，它們在處理含有碳煙或水的油液樣品時，更有優勢，因為這些污染物可以順利通過孔而不增加信號輸出。這是孔堵塞技術優于光阻擋和直接成像技術的主要優點。